home
TOPICS
業務内容
研究履歴
MAIOT
分析装置
EDXの精度公開
EDX分析用標準物質価格
分析価格
続きを読む
Geochemical JournalにWeb掲載
地質学雑誌受理
地質学雑誌 Vol123，No9号に掲載
LA-ICP-MS(レーザーアブレーション誘導結合プラズマ質量分析計)を導入．
EMAXEvolution EX-270を導入
Quaternary Geochronologyに掲載
Journal of Asian Earth Sciencesに掲載
「テフラ識別方法」が特許を取得しました（特許第4887261号）
地質学雑誌Vol.115,No.10に掲載
地質学雑誌Vol.114,No.12に掲載
共著論文「新潟県魚沼丘陵北部の河成段丘の層序」が日本応用地質学会論文賞受賞
SEM-EDX導入
社名変更のお知らせ
多量屈折率測定地質解析法「RIPL法」が商標登録査定となりました
NIST620ガラス販売開始
